GB/T 42968.8-2023《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想（北京）有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司。

主要起草人付君、崔强、方文啸、刘小军、吴建飞、乔彦彬、郑益民、叶畅、杨红波、李楠、刘星汛、梁吉明、白云、张艳艳、朱赛、靳冬、刘佳、陈燕宁、邵鄂、周香、黄雪梅、郑泓、李德鹏、吕飞燕、刘易勇、贺伟、陈勇志、陈梅双。

基础信息

标准号：GB/T 42968.8-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-8:2012。采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科技有限公司扬芯科技（深圳）有限公司北京无线电计量测试研究所河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司中国合格评定国家认可中心东南大学广东省科学院电子电器研究所联想（北京）有限公司中国电力科学研究院有限公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院浙江诺益科技有限公司广州市诚臻电子科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司中国家用电器研究院北京芯可鉴科技有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司青岛金汇源电子有限公司西安优来测科技有限公司广州致远电子有限公司

起草人

付君崔强吴建飞乔彦彬杨红波李楠白云张艳艳刘佳陈燕宁黄雪梅郑泓刘易勇贺伟方文啸刘小军郑益民叶畅刘星汛梁吉明朱赛靳冬邵鄂周香李德鹏吕飞燕陈勇志陈梅双

相近标准(计划)

20214711-T-339 集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法GB/T 42968.2-2024 集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法20242740-T-339 集成电路电磁兼容建模第6部分：集成电路脉冲抗扰度特性仿真模型传导脉冲抗扰度建模（ICIM-CPI）20240813-T-469 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第2-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法辐射骚扰测量20214060-T-339 集成电路电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入（BCI）法20214064-T-339 集成电路电磁发射测量第8部分：辐射发射测量带状线法

上一篇： 纳米技术纳米光电显示量子点光转换膜光学性能测试方法

下一篇： 纳米技术纳米光电显示量子点光转换膜的光学可靠性测定