GB/T 44221-2024《光学系统波前像差的测定夏克-哈特曼光电测量法》

Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《光学系统波前像差的测定夏克-哈特曼光电测量法》由TC487（全国光电测量标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国标准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司、成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院。

主要起草人史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有、包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东。

基础信息

标准号：GB/T 44221-2024发布日期：2024-07-24实施日期：2025-02-01标准类别：方法中国标准分类号：L50国际标准分类号：17.180.99 归口单位：全国光电测量标准化技术委员会执行单位：全国光电测量标准化技术委员会主管部门：中国科学院

起草单位

中国科学院苏州生物医学工程技术研究所中国标准化研究院中国科学院长春光学精密机械与物理研究所中国计量科学研究院浙江舜宇光学有限公司苏州一光仪器有限公司中国科学院光电技术研究所中国科学院空天信息创新研究院苏州慧利仪器有限责任公司长春奥普光电技术股份有限公司成都科奥达光电技术有限公司舟山市质量技术监督检测研究院

起草人

史国华邢利娜蔡建奇王璞洪宝玉冯长有谢桂华伍开军何益杨金生刘春雨韩森包明帝叶虹沈晨雁郝华东

相近标准(计划)

GB/T 41869.2-2022 光学和光子学微透镜阵列第2部分：波前像差的测试方法GB/T 44078-2024 光电系统中光学中心间距的测定低相干干涉测量法GB/T 10987-2009 光学系统参数的测定GB/T 18904.5-2003 半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范GB/T 27667-2011 光学系统像质评价畸变的测定GB/T 12832-2008 橡胶结晶效应的测定硬度测量法GB/T 18904.2-2002 半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范GB/T 18904.4-2002 半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范GB/T 18273-2000 石油和液体石油产品立式罐内油量的直接静态测量法（HTG质量测量法）20240723-T-604 高电压试验技术特快波前过电压测量

上一篇： 硝化纤维素混合物的稳定性测试方法

下一篇： 塔式太阳能光热发电站集热系统技术要求