GB/T 42968.2-2024《集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method

标准类型：国家标准

标准属性：推荐性

标准状态：现行

国家标准《集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院。

主要起草人付君、崔强、黄雪梅、乔彦彬、吴建飞、方文啸、朱赛、亓新、李旸、梁吉明、谢玉章、张红升、熊伟杰、张艳艳、周昕、郑益民、王雪、熊璞、张金玲、麦强、康志能、陈梅双。

基础信息

标准号：GB/T 42968.2-2024发布日期：2024-10-26实施日期：2024-10-26标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010。采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院安徽中认倍佳科技有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司天津先进技术研究院中国家用电器研究院北京星河亿海科技有限公司中国信息通信研究院北京邮电大学中国汽车工程研究院股份有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司北京智芯微电子科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所重庆邮电大学浙江诺益科技有限公司重庆仕益产品质量检测有限责任公司东莞职业技术学院

起草人

付君崔强吴建飞方文啸李旸梁吉明熊伟杰张艳艳王雪熊璞康志能陈梅双黄雪梅乔彦彬朱赛亓新谢玉章张红升周昕郑益民张金玲麦强

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